1.直流(liú)耐壓(yā)試驗時，必須将電(diàn)纜充分放電
電力電纜(lǎn)的電(diàn)容量(liàng)很大，進(jìn)行(háng)直流(liú)耐壓(yā)試驗後，剩餘電荷的(de)能量(liàng)還比較大，直(zhí)接影響(xiǎng)絕緣電阻和吸收比的測(cè)量。如(rú)果電(diàn)纜在第一(yī)次直流耐(nài)壓試驗後，放(fàng)電時間短，未(wèi)将剩(shèng)餘電荷(hé)放盡就進行(háng)絕緣電阻試驗，充電(diàn)電流(liú)與吸(xī)收電流會比第(dì)一次(cì)減小，這樣(yàng)就會出現(xiàn)絕緣(yuán)電阻虛假增(zēng)大和吸收(shōu)比減小的現象。
另外，直(zhí)流耐壓試(shì)驗後立即(jí)進行絕緣(yuán)電阻試驗(yàn)會産(chǎn)生絕(jué)緣電(diàn)阻減(jiǎn)小和吸(xī)收(shōu)比增(zēng)大的(de)虛假現象。這主(zhǔ)要是(shì)測量(liàng)絕緣電阻的兆歐表接線(xiàn)電壓極性與直(zhí)流耐(nài)壓電壓極(jí)性相反引(yǐn)起的。電纜(lǎn)在直流耐壓試(shì)驗中，如果(guǒ)放電不充分，立(lì)即測(cè)量絕緣電阻，那(nà)麼絕(jué)緣(yuán)電阻表(biǎo)需要輸出很多(duō)電荷(hé)去(qù)中和電(diàn)纜中的剩餘電(diàn)荷，造成(chéng)絕緣電阻的(de)虛假降低(dī)。因為直流耐壓試驗時間(jiān)一般(bān)為5min，所以電纜直流耐壓試(shì)驗後(hòu)，放(fàng)電(diàn)時間要大(dà)于5min，電(diàn)纜越長，放電時間越(yuè)長。絕(jué)緣電(diàn)阻測試後(hòu)，放電時間(jiān)大于(yú)充電(diàn)時間。
2.直流(liú)耐壓試驗時，必須加(jiā)以屏蔽
對電力電纜進行(háng)直流(liú)耐壓及直(zhí)流洩漏(lòu)試驗時(shí)，因試驗電壓較(jiào)高，絕緣良好的電纜(lǎn)洩漏電流(liú)較小，因而(ér)設備引起(qǐ)的(de)雜散電(diàn)流對(duì)試(shì)驗(yàn)結(jié)果(guǒ)影響很大(dà)。為了(le)消除(chú)雜(zá)散電流對試(shì)驗結果的(de)影響，采用微安(ān)表接(jiē)在高壓側(cè)，高壓引線(xiàn)及微安表加(jiā)屏(píng)蔽接(jiē)線。這種(zhǒng)試驗接(jiē)線(xiàn)，由于采取微(wēi)安表接在(zài)高壓(yā)回路(lù)，且高(gāo)壓引線和(hé)微安表加了屏(píng)蔽(bì)，因此能消除(chú)高(gāo)壓(yā)引線(xiàn)電暈和(hé)試驗設(shè)備雜(zá)散(sàn)電流對試驗(yàn)結(jié)果的影(yǐng)響，其試驗(yàn)結果(guǒ)的準(zhǔn)确(què)度高。此(cǐ)種接線，對(duì)電纜(lǎn)外皮(pí)對地(dì)絕緣(yuán)或不(bú)絕(jué)緣的都(dōu)可采(cǎi)用。
在惡劣(liè)環境條件下，電(diàn)纜表(biǎo)面洩漏電(diàn)流較大，使試驗數據不能反映(yìng)絕緣真(zhēn)實(shí)情況(kuàng)。采(cǎi)用電(diàn)纜兩頭(tóu)加屏蔽來消(xiāo)除(chú)表面(miàn)洩漏電流(liú)，此法可完全消除電(diàn)纜兩頭表(biǎo)面洩漏的影響(xiǎng)，可測(cè)出電纜絕緣的真(zhēn)實(shí)洩漏(lòu)電流(liú)數據。
